अभ्यासक्रम VLSI आणि चिप डिझाइन - [EC3552] UNIT I MOS TRANSISTOR Principles MOS लॉजिक फॅमिली (NMOS आणि CMOS), Ideal आणि Non Ideal IV वैशिष्ट्ये, CMOS डिव्हाइसेस. एमओएस(एफईटी) ट्रान्झिस्टरचे वैशिष्ट्य स्टॅटिक आणि डायनॅमिक कंडिशन, टेक्नॉलॉजी स्केलिंग, वीज वापर. (प्रकरण - 1) युनिट II कॉम्बिनेशनल लॉजिक सर्किट्स प्रसार विलंब, स्टिक डायग्राम, लेआउट आकृती, कॉम्बिनेशनल लॉजिक डिझाईनची उदाहरणे, एलमोर्स कॉन्स्टंट, स्टॅटिक लॉजिक गेट्स, डायनॅमिक लॉजिक गेट्स, पास ट्रान्झिस्टर डिझाईन पॉवर लॉजिक, कमी पॉवर लॉजिक तत्त्व, (अध्याय - 2) युनिट III अनुक्रमिक लॉजिक सर्किट्स आणि क्लॉकिंग स्ट्रॅटेजीज स्टॅटिक लॅचेस आणि रजिस्टर्स, डायनॅमिक लॅचेस आणि रजिस्टर्स, पाइपलाइन्स, नॉनबिस्टेबल सिक्वेन्शियल सर्किट्स. डिजिटल सिस्टम्सचे वेळेचे वर्गीकरण, सिंक्रोनस डिझाइन, सेल्फ-टाइम सर्किट डिझाइन. (अध्याय - 3) युनिट IV इंटरकनेक्ट, मेमरी आर्किटेक्चर आणि अंकगणितीय सर्किट्स इंटरकनेक्ट पॅरामीटर्स - कॅपेसिटन्स, रेझिस्टन्स आणि इंडक्टन्स, इलेक्ट्रिकल वायर मॉडेल्स, अनुक्रमिक डिजिटल सर्किट्स : अॅडर्स, मल्टीप्लायर्स, कंपेरेटर, शिफ्ट. प्रोग्रामेबल डिव्हाइसेस (ROM, PLA, FPGA), मेमरी आर्किटेक्चर आणि बिल्डिंग ब्लॉक्स, मेमरी कोर आणि मेमरी पेरिफेरल्स सर्किटरी वापरून लॉजिक अंमलबजावणी. (अध्याय - 4) युनिट V ASIC डिझाइन आणि चाचणी वेफर ते चिप फॅब्रिकेशन प्रक्रिया प्रवाहाचा परिचय. मायक्रोचिप डिझाइन प्रक्रिया आणि जटिल चिप्स, एम्बेडेड कोर आणि एसओसी, फॉल्ट मॉडेल्स, चाचणी कोडिंगची चाचणी आणि पडताळणीमधील समस्या. ASIC डिझाईन फ्लो, ASIC चा परिचय, चाचणी बेंचचा परिचय, वेरिलॉग एचडीएलमध्ये टेस्टबेंच लिहिणे, स्वयंचलित चाचणी नमुना निर्मिती, चाचणीक्षमतेसाठी डिझाइन, स्कॅन डिझाइन: चाचणी इंटरफेस आणि सीमा स्कॅन. (अध्याय - 5)